Machines d'inspections à rayons X semi-automatiques
Leader dans le domaine de la métrologie et de l’inspection à rayons X depuis de nombreuses années, NIKON Metrology propose sa toute nouvelle gamme d’équipements XTV, conçus spécialement pour les applications électroniques.
Plongez au coeur des composants sous des angles inclinés, sans aucun compromis en haute résolution.
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NIKON XTV 130 C
Le système NIKON XT V 130C est un système d’inspection à rayons X pour les cartes et des composants électroniques et des semi-conducteurs. -
NIKON XTV 160 Nanotech
Spécifiquement conçu pour être utilisé sur les lignes de production et dans les laboratoires d’analyse des ruptures, le système NIKON XT V 160 peut être configuré avec des composants système de toute première qualité afin d’optimiser ses performances en fonction de vos besoins.
