Le système NIKON XT V 130C est un système d’inspection à rayons X pour les cartes et des composants électroniques et des semi-conducteurs.
Abordable et évolutif, le système XTV 130 C comprend une source X 130kV/10W de dernière génération fabriquée par Nikon Metrology, un tube à transmission de fort grossissement à générateur intégré, et une chaîne d’imagerie à haute résolution.
L’utilisateur final pourra, s’il le souhaite faire évoluer sa machine au travers de mises à jour et configurer son système en fonction de ses propres besoins.

Principales caractéristiques

• Source X microfocus 130kV / 10W brevetée Xi
• Taille de spot de 3 µm et une reconnaissance des entités de 2 µm
• Détecteurs X « Flat Panel » VAREX 1313DX
• Manipulateur type orbital  4 axes (X, Y, Z, Inclinaison)
• Axes de rotation 360 ° (en option)
• Zone de mesure de 520 x 520 mm
• Imagerie en temps réel ou inspection automatisée (en option)
• Prêt à recevoir les applications de Tomographie Numérique et laminographie X.